Spektralny pomiar filtrów i innych elementów optycznych

System spektroskopowy do pomiaru wydajności optycznej filtrów, powłok i elementów optycznych. Łatwy pomiar procentowy transmitancji, gęstości optycznej (OD), absorbancji i odbicia dowolnego elementu optycznego. Idealnie sprawdza się do celów badawczych, rozwoju, kontroli jakości i produkcji
Za pomocą spektrometru światłowodowego StellarNet sprzężonego z sondą odbiciową i światłowodowym źródłem światła można zmierzyć grubość powłoki analizując sinusoidalny wzór prążkowy odbicia próbek. StellarNet oferuje spektrometry o zakresie od 190 do 2300 nm. Dla lepszej rozdzielczości możliwe jest zbudowanie systemu złożonego z kilku spektrometrów.
Sonda światłowodowa może być zasilana światłowodowym źródłem światła – żarówką wolframową kryptonową SL1. Do pomiaru koloru próbek stałych stosuje się kulę całkującą (taką jak IC2), zamiast światłowodowej sondy odbijającej, aby poprawić spójność pomiaru. IC2 działa również jako receptor kosinusoidalny w celu poprawy pomiarów natężenia napromienienia. Standard bieli RS50, jest wykorzystywany do wygenerowania odniesienia do późniejszych pomiarów próbek stałych.